Prensip
Kristalografinin Temeli: Elektron Geri Dağınık Kırınım (EBSD) tekniği, kristal düzlemlerin Bragg kırınım ilkesine dayanmaktadır. Bir kristaldeki atomlar düzenli olarak düzenlenmiştir. Bir elektron ışını kristal yüzeyini ışınladığında, Bragg Yasası (burada düzlemler arası aralık, kırınım açısı, kırınım sırası ve elektron ışınının dalga boyu) karşılandığında kırınım olgusu meydana gelecektir. Çelik gibi çok kristalli malzemeler için farklı taneler farklı kristalografik yönelimlere sahiptir.
Yönlendirme Görüntüleme: EBSD sistemi, kırınıma uğrayan bu elektronları alarak her bir taneciğin kristalografik yönelimini belirleyebilir. Taramalı Elektron Mikroskobunda (SEM), elektron ışını numune yüzeyindeki nokta nokta tarama yapar ve her tarama noktasında kırınım desenleri elde eder. Bu kırınım desenleri, tane oryantasyonu hakkında bilgi içerir ve Oryantasyon Görüntüleme Haritası (OIM) olarak adlandırılan, tane oryantasyonunu bir görüntü biçiminde görüntülemek için yazılım tarafından işlenebilir.
Tane Büyüklüğü Ölçümünün Temeli: Oryantasyon görüntüleme haritasına dayanarak, farklı oryantasyonlara sahip tanelerin ayırt edilmesiyle tane sınırları belirlenebilir. Her bir tanenin içindeki yönelim temelde aynı olduğundan ve bitişik taneler arasında bir yönelim farklılığı olduğundan, uygun bir yönelim farkı eşiği ayarlanarak tane sınırları belirlenebilir. Tane sınırları belirlendikten sonra tane boyutu hesaplanabilir. Örneğin, tanecik boyutunu karakterize etmek için taneciğin eşdeğer dairesel çapı gibi geometrik parametreler ölçülebilir.

 

 

Cihaz Parametre Ayarı
İvme Gerilimi Ayarı: Taramalı Elektron Mikroskobunda çelik numunesinin özelliklerine ve analiz gereksinimlerine göre uygun bir ivme gerilimi ayarlanır. Genel olarak çelik için hızlanma voltajı 15 - 30kV arasında ayarlanabilir. Uygun bir hızlanma voltajı, elektron ışınının numune yüzeyine nüfuz etmek ve net kırınım modelleri oluşturmak için yeterli enerjiye sahip olmasını sağlayabilir.
Çalışma Mesafesi Ayarı: Çalışma mesafesi, elektron tabancasından numune yüzeyine olan mesafeyi ifade eder ve genellikle 10 - 20mm arasında ayarlanır. Uygun bir çalışma mesafesi, elektron ışınının iyi odaklanmasını sağlayabilir ve iyi kırınım sinyallerinin alınmasına yardımcı olabilir.
Tarama Adımı Seçimi: Tarama adımı, elektron ışını numune yüzeyini tararken iki bitişik tarama noktası arasındaki mesafedir. Daha büyük tane boyutlarına sahip çelik numuneleri için tarama adımı, {{0}}μm gibi biraz daha büyük ayarlanabilir; daha küçük tane boyutuna sahip numuneler için, her bir tanenin doğru şekilde tanımlanmasını sağlamak amacıyla tarama adımı daha küçük, örneğin 0,1 - 1μm olarak ayarlanmalıdır.
Veri Toplama
Numune Kurulumu: Hazırlanan numune, Taramalı Elektron Mikroskobunun numune tablasına yerleştirilerek numunenin sağlam bir şekilde sabitlenmesi ve iyi elektriksel iletkenliğe sahip olması sağlanır.
Taramayı Başlat: Tarama programı başlatılır ve elektron ışını, belirlenen tarama adımına göre numune yüzeyinde noktadan noktaya tarama yapar. Her tarama noktasında, EBSD dedektörü kırınıma uğrayan elektronları alır, bunları elektrik sinyallerine dönüştürür ve ardından her tarama noktasının kırınım modeli bilgisini kaydetmek için bunları güçlendirir ve sayısallaştırır.

 

 

 

 

 

Sağladığımız özellikler:

Kalınlık	3-200M
Genişlik	1500-4000M
Uzunluk	5000-15000M

 

 

 

Veri İşleme ve Analizi
Desen İndeksleme: Toplanan kırınım deseni verileri ilk önce desen indeksli olmalıdır, yani her tarama noktasına karşılık gelen kristalografik yönelimi belirlemek için bilinen kristalografik veri tabanındaki standart kırınım desenleriyle karşılaştırılarak. Bu süreç özel EBSD analiz yazılımı aracılığıyla tamamlanır. Yazılım, kırınım noktalarının konumu ve yoğunluğuna göre en olası kristalografik yönelimi eşleştirecektir.
Tane Yeniden Yapılanması: Tarama noktalarının yönelim bilgisine ve ayarlanan yönelim farkı eşiğine (genellikle çelik için yönelim farkı eşiği 10 - 15 derece arasında ayarlanır) dayalı olarak yazılım, tane sınırlarını tanımlamak ve bölmek için kullanılır. aynı veya benzer yönelimlere sahip tarama noktaları tek bir tanecik haline getirilir, böylece tanenin şekli yeniden oluşturulur.
Tane Boyutu Hesaplaması: Taneler yeniden oluşturulduktan sonra yazılımdaki araçlar kullanılarak tane boyutu hesaplanabilir. Örneğin, her bir tanenin alanı ve çevresi gibi parametreler hesaplanabilir ve ardından eşdeğer dairesel çap ve tane boyutunu karakterize eden diğer göstergeler hesaplanabilir. Aynı zamanda ortalama tane büyüklüğünün ve tane büyüklüğü dağılımının hesaplanması gibi tane büyüklüğünün istatistiksel analizi de yapılabilir.

 

 

 

 

 

 

Müşterilerimizin benzersiz ihtiyaçlarına özel çözümler sunma yeteneğimizle gurur duyuyoruz.
BV EH36 Çelik Levhamızın önceki ürünlerini ve mevcut teknik durumunu analiz edip karşılaştırıyor, yeni teknik özellikler ve süreçler geliştiriyoruz.
Müşterilerimiz yüksek kaliteli Soğuk Haddelenmiş Çelik ürünlerini zamanında ve bütçeye uygun şekilde teslim edeceğimize güveniyor.
Sıcak ve düşünceli satış sonrası hizmeti kesinlikle uyguluyoruz, iyi mesleki ahlakın geliştirilmesine bağlı kalıyoruz.
Farklı müşteri ihtiyaçlarını karşılamak için geniş bir Soğuk Haddelenmiş Çelik ürün yelpazesi sunuyoruz.
Müşteri odaklı ve marka odaklı iş felsefesine bağlı kalarak müşterilerimize güvenilir ve mükemmel ürün ve hizmetler sunmaya devam ediyoruz.
Fabrikamız en yüksek güvenlik ve kalite standartlarını korumaya kararlıdır.
Şirketimizin tüm personeli ve tüm departmanları, işletme yönetimini, profesyonel teknolojiyi, niceliksel istatistiksel yöntemleri ve ideolojik eğitimi birleştirmek için birlikte çalışır.
Soğuk Haddelenmiş Çelik ürünlerimiz dayanıklılığı ve güvenilirliği ile bilinir.
Seri üretimin üstün koşullarına ve güçlü avantajlarına güvenerek müşterilerimizin farklı ihtiyaçlarını karşılayabiliyoruz.

Popüler Etiketler: bv eh36 çelik levha, Çin bv eh36 çelik levha tedarikçileri, fabrika